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高加速寿命试验 零部件可靠性试验 可靠性分析 宜特公司

高加速寿命试验  零部件可靠性试验 可靠性分析 宜特公司
产品价格:1
更新时间:2017-06-07
产品型号:无
产品品牌:宜特检测
产品分类:上海商务服务相关 > 上海其他分类
发布企业:宜特(上海)检测技术有限公司
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详细介绍

高加速寿命试验(HAST)

高加速寿命试验(Highly Accelerated Stress Test (HAST))的目的为验证非密封性包装之电子零阻件在高温、高湿、高压的加速因子下,评估封装材质与内部线路等对湿气腐蚀抵抗之能力,并可缩短电子零阻件寿命试验时间;其故障模式亦等同于Steady-State Humidity Life Test (JESD 22-A101)。 

当待测产品被置于严苛之高温、高湿、高压同时施加电压,此时的环境会促使水气沿着胶体(EMC)与导线架(Lead Frame)或基板(Substrate)之接口渗入产品内部,导致以下情形: 


  •  

界面接合性不佳。

打线材料与芯片或铝垫间介金属化合物的变化。

电解腐蚀(Electrolytic corrosion)形成离子迁移(Ion migration),进而漏电短路(short-circuit (leak))。

测试条件:

Test ItemTemperatureHumidityVapor PressureBiasTest Duration
HAST130±2℃85±5%33.3psia1.1X96(-0,+2)Hrs.
110±2℃85±5%17.7psia1.1X264(-0,+2)Hrs.
THB85±2℃85±5%7.12psia1.1X1000(-24,+168)Hrs.

相关参考规范:


JESD 47 / JESD 22-A110 / JESD 22-A118

IEC 60068-2-66

JETIA ED-4701-100

AEC Q100 /101

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关于宜特:

iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

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