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电性故障分析 HP4156 参数分析仪（测IV) 宜特公司
详细介绍
HP4156 参数分析仪(测IV)
HP4156参数分析仪是一台用于测量半导体组件特性曲线的精密工具，可用于量测二极管二端的点 I-V curve , MOSFET的 Id-Vds-Vg 特性曲线以及逻辑闸的转换特性等等，以成为产业界通用的设备。宜特拥有的HP4156参数分析仪具有以下几项优点：
数字化参数扫描(Current/Voltage Sweep)
可靠的检测器具备强而有力的失效分析工具
机台内建4组SMU (2 VMUs, 2 VSUs) : Voltage sources, Current sources, Voltage monitors and Current monitors。
关于宜特：
iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
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推荐关键词：电性故障分析|失效分析|HP4156 参数分析仪(测IV)
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