失效分析 非破坏性分析 X射线检测2DX-ray 宜特公司

X射线检测(2D X-ray)

原理:

X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出，其具有非常短的波长但高电磁辐射线。而对于样品无法以外观方式检测之位置，利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化，产生之对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构，进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题之区域。

主要应用: 

IC封装中的缺点检验如﹕层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性检验。 

• 印刷电路板制程中可能产生的缺点，如﹕对齐不良或桥接以及开路。 

• SMT焊点空洞现象检测与量测。

• 各式连接线路中可能产生的开路，短路或不正常连接的缺点检验。 

• 锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验。 

• 密度较高的塑料材质破裂或金属材质空洞检验。 

• 芯片尺寸量测，打线线弧量测，组件吃锡面积比例量测。

设备限制:

• IC封装中如果是打铝线或材料材质密度较低会被穿透而无法检视

关于宜特：

iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。